Full-text resources of CEJSH and other databases are now available in the new Library of Science.
Visit https://bibliotekanauki.pl

PL EN


2015 | 289 | 33-39, 84-90

Article title

Problemy w opracowaniu wywiadów daktyloskopijnych NN zwłok z odwzorowaniami linii papilarnych zabezpieczonymi w masie silikonowej i próba ich rozwiązania

Content

Title variants

EN
Problems encountered in the dactyloscopic irwestigation of anonymous corpses with fingerprint patterns preserved in silicone molds and the attempt to solve them

Languages of publication

PL EN

Abstracts

PL
W artykule opisano doświadczenia przeprowadzone w Automatycznym Systemie Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS), które wykazały, że zastępując standardowo stosowane przeszukanie typu TP/TP (karta/karta) przeszukaniem typu LT/TP (ślad/karta) przy opracowywaniu wywiadów daktyloskopijnych z odwzorowaniami linii papilarnych utrwalonymi w masie silikonowej, otrzymuje się optymalne wyniki. Dodatkowo zawarto szereg praktycznych wskazówek dla osób opracowujących tego rodzaju wywiady, z jakich narzędzi AFIS należy korzystać, aby uzyskiwać prawidłowe wyniki przeszukania w systemie i minimalizować ryzyko wystąpienia błędów.
EN
The article describes experiments conducted using the Automatic Fingerprint Identification System (AFIS), which demonstrated that replacing the standard search type TP/TP (card/card) with the type LT/TP (tracę/ card) in conducting dactyloscopic investigations with fingerprint patterns preserved in silicone molds leads to optimal results. Moreover, a series of practical tips for investigators are included, covering the AFIS tools that should be used to obtain correct search results in the system and minimize the risk of errors.

Year

Issue

289

Pages

33-39, 84-90

Physical description

Dates

published
2015

Contributors

  • Centralne Laboratorium Kryminalistyczne Policji

References

Document Type

Publication order reference

Identifiers

YADDA identifier

bwmeta1.element.desklight-e4e9386d-e8e5-4f53-b7d8-26174c1df4a9
JavaScript is turned off in your web browser. Turn it on to take full advantage of this site, then refresh the page.