Full-text resources of CEJSH and other databases are now available in the new Library of Science.
Visit https://bibliotekanauki.pl

Refine search results

Journals help

  1. 1 Problemy Kryminalistyki

Authors help

  1. 1 Malinowski P.

Years help

  1. 1 2015

Results found: 1

first rewind previous Page / 1 next fast forward last

Search results

Search:
in the keywords:  fingerprint patterns preserved in silicone molds
help Sort By:

help Limit search:
first rewind previous Page / 1 next fast forward last
1
Publication available in full text mode
Content available

Problemy w opracowaniu wywiadów daktyloskopijnych NN zwłok z odwzorowaniami linii papilarnych zabezpieczonymi w masie silikonowej i próba ich rozwiązania

100%
Malinowski P.
Problemy Kryminalistyki
|
2015
|
issue 289
33-39, 84-90
PL
W artykule opisano doświadczenia przeprowadzone w Automatycznym Systemie Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS), które wykazały, że zastępując standardowo stosowane przeszukanie typu TP/TP (karta/karta) przeszukaniem typu LT/TP (ślad/karta) przy opracowywaniu wywiadów daktyloskopijnych z odwzorowaniami linii papilarnych utrwalonymi w masie silikonowej, otrzymuje się optymalne wyniki. Dodatkowo zawarto szereg praktycznych wskazówek dla osób opracowujących tego rodzaju wywiady, z jakich narzędzi AFIS należy korzystać, aby uzyskiwać prawidłowe wyniki przeszukania w systemie i minimalizować ryzyko wystąpienia błędów.
EN
The article describes experiments conducted using the Automatic Fingerprint Identification System (AFIS), which demonstrated that replacing the standard search type TP/TP (card/card) with the type LT/TP (tracę/ card) in conducting dactyloscopic investigations with fingerprint patterns preserved in silicone molds leads to optimal results. Moreover, a series of practical tips for investigators are included, covering the AFIS tools that should be used to obtain correct search results in the system and minimize the risk of errors.
first rewind previous Page / 1 next fast forward last
JavaScript is turned off in your web browser. Turn it on to take full advantage of this site, then refresh the page.